<manifestation xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:tucdl="http://purl.tuc.gr/dl/dias/schemas/aip/tucdl/" xmlns="http://purl.tuc.gr/dl/dias/schemas/aip/tucdl/" xsi:schemaLocation="http://purl.tuc.gr/dl/dias/schemas/aip/tucdl/ http://purl.tuc.gr/dl/dias/schemas/aip/tucdl" keyIdentifier="http://purl.tuc.gr/dl/dias/8918153D-5D2D-4DE8-9FF5-ABC74220944D"><titleOfTheManifestation>Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες</titleOfTheManifestation><identifierOfManifestation>http://www.library.tuc.gr/artemis/MT2000-0023/MT2000-0023.pdf</identifierOfManifestation><isEmbodimentOf entityType="Expression"><uri>http://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83</uri><title xml:lang="en">Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες</title></isEmbodimentOf><accessRestrictionOnTheManifestation>free</accessRestrictionOnTheManifestation><dateOfPublicationDistribution>2014-03-24</dateOfPublicationDistribution><formOfCarrier>application/pdf</formOfCarrier></manifestation>