Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Συμπαγής μοντελοποίηση και προσδιορισμός παραμέτρων διατάξεων Junction FETs με εξάρτηση από την θερμοκρασία

Piniaras Dimitrios

Πλήρης Εγγραφή


URI: http://purl.tuc.gr/dl/dias/F0B5DECE-BCB4-42B0-92B1-239B1FE705DC
Έτος 2023
Τύπος Διπλωματική Εργασία
Άδεια Χρήσης
Λεπτομέρειες
Βιβλιογραφική Αναφορά Δημήτριος Πινιάρας, "Συμπαγής μοντελοποίηση και προσδιορισμός παραμέτρων διατάξεων Junction FETs με εξάρτηση από την θερμοκρασία", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2023 https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.96428
Εμφανίζεται στις Συλλογές

Περίληψη

Στο διαρκώς εξελισσόμενο τοπίο της τεχνολογίας ημιαγωγών, το τρανζίστορ πεδίου επίδρασης τύπου n-JFET παίζει σημαντικό ρόλο σε μια ποικιλία εφαρμογών. Η παρούσα εργασία παρουσιάζει μια ολοκληρωμένη διερεύνηση ενός n-JFET, εστιάζοντας ειδικά στο μοντέλο SK30A, με έντονη έμφαση στις συμπεριφορές του που εξαρτώνται από τη θερμοκρασία. Ο ακρογωνιαίος λίθος αυτής της μελέτης έγκειται σε έναν σχολαστικό χαρακτηρισμό του SK30A n-JFET υπό ποικίλες συνθήκες θερμοκρασίας, που εκτείνονται από τους 25 βαθμούς έως τους 114 βαθμούς Κελσίου. Η προσέγγιση αυτή επέτρεψε τη σε βάθος διερεύνηση των επιδράσεων που προκαλούνται από τη θερμοκρασία στις επιδόσεις του JFET και στις κρίσιμες λειτουργικές παραμέτρους. Συγκεκριμένα, αναλύσαμε τον τρόπο με τον οποίο η τάση κατωφλίου, το ρεύμα αποστράγγισης και η διαγωγιμότητα επηρεάζονται από τις διακυμάνσεις της θερμοκρασίας, οδηγώντας σε μια πλούσια κατανόηση των αλληλένδετων σχέσεών τους.Επιπλέον, η μελέτη αυτή πραγματοποίησε μια εξέταση των περιοχών λειτουργίας του JFET, συγκεκριμένα των περιοχών γραμμικής λειτουργίας και κορεσμού, οι οποίες είναι καθοριστικές για τον σχεδιασμό και τη λειτουργία των αναλογικών κυκλωμάτων. Επιπλέον, επιθεωρήθηκαν οι περιοχές υπο-κατωφλίου και κατωφλίου, παρέχοντας εικόνα της μετάβασης του JFET από την κατάσταση απενεργοποίησης στην κατάσταση ενεργοποίησης, μια πτυχή που διαδραματίζει κρίσιμο ρόλο σε εφαρμογές χαμηλής ισχύος.Μέσω αυτής της ολοκληρωμένης ανάλυσης, η διπλωματική υπογραμμίζει τη βαθιά επίδραση της θερμοκρασίας στην απόδοση του JFET, αναδεικνύοντας έτσι τη σημασία της συνεκτίμησης των θερμοκρασιακών μεταβολών κατά το σχεδιασμό και την εφαρμογή τέτοιων διατάξεων. Τα ευρήματα αυτά προάγουν την ολιστική κατανόηση της ευαίσθητης στη θερμοκρασία συμπεριφοράς των n-JFET και θέτουν τις βάσεις για μελλοντική έρευνα και πρακτικές εφαρμογές στον τομέα της ηλεκτρονικής.Τελικά, στην εργασία αυτή δείχνουμε τον τρόπο με τον οποίο η αλληλεπίδραση της θερμοκρασίας και των βασικών λειτουργικών παραμέτρων διαμορφώνει την απόδοση ενός n-JFET, ανοίγοντας νέους δρόμους για τη βελτίωση της αποδοτικότητας και της αξιοπιστίας της διάταξης σε ένα ευρύ φάσμα ηλεκτρονικών συστημάτων.

Διαθέσιμα αρχεία

Υπηρεσίες

Στατιστικά