URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/C4B0BCBA-4221-4368-851E-13C1BC949A5C | - |
Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.1109/IECON48115.2021.9589334 | - |
Αναγνωριστικό | https://ieeexplore.ieee.org/document/9589334 | - |
Γλώσσα | en | - |
Μέγεθος | 5 pages | en |
Τίτλος | Fault diagnosis and reconfiguration for H6 grid-tied inverter using Kalman filter | en |
Δημιουργός | Xiao Chengqi | en |
Δημιουργός | Wu Weimin | en |
Δημιουργός | Gao Ning | en |
Δημιουργός | Koutroulis Eftychios | en |
Δημιουργός | Κουτρουλης Ευτυχιος | el |
Δημιουργός | Chung Henry Shu-Hung | en |
Δημιουργός | Blaabjerg, Frede, 1963- | en |
Εκδότης | Institute of Electrical and Electronics Engineers | en |
Περίληψη | This paper presents an IGBT open-circuit fault diagnosis method based on Kalman filter model and reconfiguration algorithm for H6 grid-tied inverter. This method can detect open-circuit fault by only sampling the inductor current through Kalman filter model. Then, through the reconfiguration algorithm, the H6 grid-tied inverter is reconfigured as a Boost-type converter to identify the faulty IGBT device. The Kalman filter model can also predict the grid voltage provided to the control loop, thus saving the ac voltage sensor for the system. This method does not require extra sensors and diagnostic circuits, so it can be easily embedded in the DC/AC inverter system. | en |
Τύπος | Δημοσίευση σε Συνέδριο | el |
Τύπος | Conference Publication | en |
Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
Ημερομηνία | 2023-05-19 | - |
Ημερομηνία Δημοσίευσης | 2021 | - |
Θεματική Κατηγορία | Fault diagnosis | en |
Θεματική Κατηγορία | H6 inverter | en |
Θεματική Κατηγορία | Open-circuit fault | en |
Θεματική Κατηγορία | Kalman filter | en |
Θεματική Κατηγορία | Reconfiguration | en |
Βιβλιογραφική Αναφορά | C. Xiao, W. Wu, N. Gao, E. Koutroulis, H. S. -H. Chung and F. Blaabjerg, "Fault diagnosis and reconfiguration for H6 grid-tied inverter using Kalman filter," presented at the IECON 2021 – 47th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, Toronto, ON, Canada, 2021, doi: 10.1109/IECON48115.2021.9589334. | en |