Institutional Repository [SANDBOX]
Technical University of Crete
EN  |  EL

Search

Browse

My Space

Analysis of rare earths in geological samples by the method XRF

Kandanoleon Emmanouil

Simple record


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/2FABD658-AB95-4927-8F2C-1FB54E4420DF-
Identifierhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.91616-
Languageel-
Extent63 σελίδεςel
Extent3.9 megabytesen
TitleΑνάλυση σπανίων γαιών σε γεωλογικά δείγματα με τη μέθοδο XRFel
TitleAnalysis of rare earths in geological samples by the method XRFen
CreatorKandanoleon Emmanouilen
CreatorΚανδανολεων Εμμανουηλel
Contributor [Thesis Supervisor]Kallithrakas-Kontos Nikolaosen
Contributor [Thesis Supervisor]Καλλιθρακας-Κοντος Νικολαοςel
Contributor [Committee Member]Manoutsoglou Emmanouilen
Contributor [Committee Member]Μανουτσογλου Εμμανουηλel
Contributor [Committee Member]Pentari Despoinaen
Contributor [Committee Member]Πενταρη Δεσποιναel
PublisherΠολυτεχνείο Κρήτηςel
PublisherTechnical University of Creteen
Academic UnitTechnical University of Crete::School of Mineral Resources Engineeringen
Academic UnitΠολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Μηχανικών Ορυκτών Πόρωνel
Content SummaryΗ παρούσα διπλωματική εργασία αφορά την ανάλυση σπανίων γαιών σε γεωλογικά δείγματα με τη μέθοδο XRF μέσω της ανάλυσης προτύπων, τη βαθμονόμηση φορητού συστήματος XRF με στόχο την ακριβή ανίχνευση στοιχείων της έκτης περιόδου του περιοδικού πίνακα, την εφαρμογή σε γεωλογικά δείγματα συγκεκριμένης περιοχής (Σίσσες νομού Ρεθύμνης) και η μελέτη της δυνατότητας ανάλυσης υγρών δειγμάτων. Αρχικά γίνεται μια εισαγωγή για τις ακτίνες Χ σχετικά με την ανακάλυψή τους από τον Wilhelm Conrad Rӧntgen το 1895, τη μέθοδο δημιουργίας τους, τις χαρακτηριστικές τους ιδιότητες και τις εφαρμογές τους στην ιατρική, στη βιομηχανία, στην ασφάλεια των αεροδρομίων, στη μικροσκοπική ανάλυση με ακτίνες Χ και στην αστρονομία ακτίνων Χ. Στη συνέχεια αναλύεται ο φθορισμός των ακτίνων Χ μέσω της μεθόδου του φθορισμού των ακτίνων Χ, τους ανιχνευτές ακτίνων Χ (Si-PIN X-Ray Detectors) που χρησιμοποιήθηκαν στις εργαστηριακές μετρήσεις και τους τομείς που βρίσκει εφαρμογή η μέθοδος XRF. Μετέπειτα παρουσιάζονται αναλυτικότερα στοιχεία όπως ο κανόνας του Moseley, που αποτέλεσε τη μέθοδο προσδιορισμού και ανακάλυψης των χημικών στοιχείων του περιοδικού πίνακα, η ενέργεια ιονισμού, η φασματοσκοπία του ηλεκτρονίου Auger και τα είδη της ελαστικής και της ανελαστικής σκέδασης. Επίσης παρέχονται πληροφορίες για το Αμερίκιο (Am) και των ισοτόπων του καθώς το ισότοπο Αμερίκιο-241 (Am-241) χρησιμοποιήθηκε ως πηγή ενέργειας στη μέθοδο XRF, τον τρόπο ακτινοβόλησης, και την ποσοτικοποίηση με βάση την ένταση της ακτινοβολίας στη μέθοδο αυτή. Στη συνέχεια αναλύεται η κατανομή των σπανίων γαιών σε μεταλλεύματα και ορυκτά, τις κατηγορίες των κοιτασμάτων που εντοπίζονται αλλά και την ύπαρξη τους στην υφαλοκρηπίδα και στον πυθμένα του ωκεανού. Επιπροσθέτως η αναφέρεται ο εμπλουτισμός των σπανίων γαιών, η σχέση τους με την ανακύκλωση, τη γεωργία αλλά και οι επιπτώσεις τους στο περιβάλλον και στην ανθρώπινη υγεία. Ακολούθως αναπτύσσεται η γεωλογία της περιοχής μελέτης στις Σίσσες όπου λήφθηκε ένα μέρος των δειγμάτων που τέθηκαν σε ανάλυση. Επίσης αναλύονται τα αποτελέσματα προσδιορισμού των σπανίων γαιών σε πρότυπα δείγματα αναφοράς (Standard Reference Materials – SRM) για τη βαθμονόμηση του φορητού συστήματος XRF στα στοιχεία καίσιο (Cs), βάριο (Ba), λανθάνιο (La) και δημήτριο (Ce). Κατόπιν παρουσιάζονται οι αναλύσεις των γεωλογικών δειγμάτων στις Σίσσες και των PTNA IAEA 19 (SRM). Τέλος μελετάται η δυνατότητα αναλύσεων σε υγρά δείγματα με βάση τη μεταβολή της απόδοσης σε σχέση με τη μάζα αλλά και με τον ατομικό αριθμό μέσω της ανάλυσης των υδατικών προτύπων σπανίων γαιών. el
Type of ItemΔιπλωματική Εργασίαel
Type of ItemDiploma Worken
Licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/en
Date of Item2022-03-01-
Date of Publication2022-
SubjectΣπάνιες γαίεςel
SubjectΦθορισμομετρία ακτίνων Χel
SubjectΦορητό σύστημαel
SubjectΑνάλυση γεωλογικών δειγμάτωνel
SubjectRare earthsen
SubjectX-ray fluorescenceen
SubjectPortable XRFen
SubjectAnalysis of geological samplesen
Bibliographic CitationΕμμανουήλ Κανδανολέων, "Ανάλυση σπανίων γαιών σε γεωλογικά δείγματα με τη μέθοδο XRF", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Μηχανικών Ορυκτών Πόρων, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2022el
Bibliographic CitationEmmanouil Kandanoleon, "Analysis of rare earths in geological samples by the method XRF", Diploma Work, School of Mineral Resources Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2022en

Available Files

Services

Statistics