Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Chevas_Loukas_MSc_2021.pdf

Αποτελεί Αρχείο του Τεκμηρίου: Characterization and compact modeling of low frequency noise and ionizing radiation effects in bulk silicon MOSFETs
URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/E37BE686-6A4F-48D9-A6B1-69DC1F443220-
Τίτλος ΑρχείουChevas_Loukas_MSc_2021.pdf-
Περιορισμοί Πρόσβασηςembargo-
UNTIL 2023-07-27
Ημερομηνία Διάθεσης2021-07-28-
Τύπος Περιεχομένουapplication/pdf-
Μέγεθος Αρχείου13.3 MBen

Εξαγωγή

Λήψη

Προεπισκόπηση

Κοινοποίηση
 

Copyright © DIAS 2013