Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Free carrier mobility, series resistance, and threshold voltage extraction in junction FETs

Makris Nikolaos, Bucher Matthias, Chevas Loukas, Jazaeri Farzan, Sallese Jean-Michel

Απλή Εγγραφή


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/8F1E4B59-F111-4EAD-AF60-E7B3B77159FA-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.1109/TED.2020.3025841-
Αναγνωριστικόhttps://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/9215023-
Γλώσσαen-
Μέγεθος4 pagesen
ΤίτλοςFree carrier mobility, series resistance, and threshold voltage extraction in junction FETsen
ΔημιουργόςMakris Nikolaosen
ΔημιουργόςΜακρης Νικολαοςel
ΔημιουργόςBucher Matthiasen
ΔημιουργόςBucher Matthiasel
ΔημιουργόςChevas Loukasen
ΔημιουργόςΧεβας Λουκαςel
ΔημιουργόςJazaeri Farzanen
ΔημιουργόςSallese Jean-Michelen
ΕκδότηςInstitute of Electrical and Electronics Engineersen
ΠερίληψηIn this brief, extraction methods are proposed for determining the essential parameters of double gate junction field-effect transistors (FETs). First, a novel method for determining free carrier effective mobility, similar to a recently proposed method for MOSFETs, is developed. The same method is then extended to cover also the case when series resistance is present, while series resistance itself may be determined from the measurement from two FETs with different channel lengths. The key technological and design parameter is the threshold voltage, which may be unambiguously determined from the transconductance-to-current ratio with a constant-current method. The new methods are shown to be effective over a wide range of technical parameters, using technology computer-aided design simulations.en
ΤύποςPeer-Reviewed Journal Publicationen
ΤύποςΔημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτέςel
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Ημερομηνία2021-04-09-
Ημερομηνία Δημοσίευσης2020-
Θεματική ΚατηγορίαCompact modelingen
Θεματική ΚατηγορίαDepletionen
Θεματική ΚατηγορίαField-effect transistor (FET)en
Θεματική ΚατηγορίαJunction FET (JFET)en
Θεματική ΚατηγορίαJunctionless FETen
Θεματική ΚατηγορίαMobilityen
Θεματική ΚατηγορίαSeries resistanceen
Θεματική ΚατηγορίαThreshold voltageen
Βιβλιογραφική ΑναφοράN. Makris, M. Bucher, L. Chevas, F. Jazaeri and J.-M. Sallese, “Free carrier mobility, series resistance, and threshold voltage extraction in junction FETs,” IEEE Trans. Electron Devices, vol. 67, no. 11, pp. 4658–4661, Nov. 2020. doi: 10.1109/TED.2020.3025841en

Υπηρεσίες

Στατιστικά