![Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]](images/dias.logo.png "Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]"){kind=logo}
Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/B0975C24-E0FE-40AA-A729-2074D0E8D8EE | - |
| Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.84111 | - |
| Γλώσσα | el | - |
| Μέγεθος | 52 σελίδες | el |
| Τίτλος | Εργαλείο στατιστικής ανάλυσης δεδομένων θορύβου σε διατάξεις CMOS | el |
| Δημιουργός | Stoikotidis Stamatis | en |
| Δημιουργός | Στοϊκοτιδης Σταματης | el |
| Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής] | Bucher Matthias | en |
| Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής] | Bucher Matthias | el |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Kalaitzakis Konstantinos | en |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Καλαϊτζακης Κωνσταντινος | el |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Balas Costas | en |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Μπαλας Κωστας | el |
| Εκδότης | Πολυτεχνείο Κρήτης | el |
| Εκδότης | Technical University of Crete | en |
| Ακαδημαϊκή Μονάδα | Technical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineering | en |
| Ακαδημαϊκή Μονάδα | Πολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών | el |
| Περίληψη | Η τεχνολογία CMOS είναι η κορυφαία τεχνολογία για την κατασκευή ολοκληρωμένων κυκλωμάτων, προσφέροντας πλεονεκτήματα όπως: αξιοπιστία, χαμηλό κόστος και χαμηλή κατανάλωση ενέργειας. Ο θόρυβος είναι μια κρίσιμη παράμετρος που επηρεάζει τη λειτουργία και τη συμπεριφορά των κυκλωμάτων. Η σωστή πρόβλεψη του θορύβου σε ολοκληρωμένα συστήματα μέσω προσομοίωσης κυκλώματος βασισμένης σε ολοκληρωμένα μοντέλα είναι ένα πολύ σημαντικό έργο, δεδομένου του υψηλού κόστους κατασκευής ενός συστήματος. Η κακή πρόβλεψη του θορύβου στα MOSFET καθιστά ιδιαίτερα δύσκολη την εφαρμογή ολοκληρωμένων κυκλωμάτων, καθώς η έλλειψη κατανόησης του θορύβου είναι ένα τεράστιο εμπόδιο για τον σωστό χειρισμό του θορύβου. Η επιτυχής και ακριβής στατιστική ανάλυση μιας διάταξης είναι μια κρίσιμη διαδικασία που μας βοηθά να κατανοήσουμε καλύτερα την αιτία του θορύβου και πόσο αποτελεσματικά μπορούμε να τον αντιμετωπίσουμε. Η παρούσα εργασία αποσκοπεί στην μελέτη του θορύβου χαμηλής συχνότητας σε διατάξεις και κυκλώματα MOSFET, τόσο σε ποιοτικό όσο και ποσοτικό επίπεδο. Στόχος της εργασίας είναι η ανάπτυξη ενός εργαλείου CAD σε περιβάλλον Java το οποίο θα δίνει την δυνατότητα αναλυτικής μελέτης της διασποράς των μετρήσεων θορύβου χαμηλής συχνότητας που λαμβάνουμε. Σε πρώτο επίπεδο, διεξήχθησαν πειραματικές μετρήσεις θορύβου χαμηλής συχνότητας σε διατάξεις τεχνολογίας CMOS 180nm. Στη συνέχεια, παρουσιάζεται το εργαλείο CAD και οι γραφικές παραστάσεις του μέσου όρου αλλά και της στατιστικής διασποράς του θορύβου σε ένα εύρος διαφορετικών περιοχών λειτουργίας των τρανζίστορ. | el |
| Περίληψη | CMOS technology is the leading technology for integrated circuits manufacturing, offering advantages such as: reliability, low cost, low power consumption. Noise is a critical parameter that affects the operation and behavior of circuits. Proper noise prediction in integrated systems through circuit simulation based on compact models is a very important task given the high cost of building a system. MOSFET's poor noise prediction makes the implementation of integrated circuits particularly difficult, as the lack of understanding of noise is a huge obstacle to proper noise handling. The successful and accurate statistical analysis of a device is a critical process for helping us understand better the cause of noise and how effectively we can deal with it. The present thesis aims to study low-frequency noise in MOSFET devices and circuits, both qualitatively and quantitatively. The aim of the project is to develop a CAD tool in Java that will enable the analytical study of the low frequency noise dispersion of the measurements we receive. At the first level, experimental low frequency noise measurements were performed on transistors of 180nm CMOS technology. Subsequently, the CAD tool is presented and the mean and the statistical distribution of low frequency noise are studied in a range of varying bias conditions. | en |
| Τύπος | Διπλωματική Εργασία | el |
| Τύπος | Diploma Work | en |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2019-12-18 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 2019 | - |
| Θεματική Κατηγορία | Tool for statistical analysis of noise data in CMOS technology | en |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | Σταμάτης Στοϊκοτίδης, "Εργαλείο στατιστικής ανάλυσης δεδομένων θορύβου σε διατάξεις CMOS", Διπλωματική Εργασία, Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2019. | el |
Copyright © DIAS 2013
