Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Nikolaou_Aristeidis_MSc_2018.pdf

Αποτελεί Αρχείο του Τεκμηρίου: Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology
URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/F1F81971-791B-43B2-B305-AF732E259063-
Τίτλος ΑρχείουNikolaou_Aristeidis_MSc_2018.pdf-
Περιορισμοί Πρόσβασηςembargo-
UNTIL 2019-01-01
Ημερομηνία Διάθεσης2018-06-29-
Τύπος Περιεχομένουapplication/pdf-
Μέγεθος Αρχείου22.1 MBen

Εξαγωγή

Λήψη

Προεπισκόπηση

Κοινοποίηση
 

Copyright © DIAS 2013