Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS

Nikolaou Aristeidis

Απλή Εγγραφή


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/6478F07C-E230-450A-A4CB-CC70418BFB21-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.77171-
Γλώσσαen-
Μέγεθος124 pagesen
ΤίτλοςCharacterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technologyen
ΤίτλοςΧαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS el
ΔημιουργόςNikolaou Aristeidisen
ΔημιουργόςΝικολαου Αριστειδηςel
Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής]Bucher Matthiasen
Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής]Bucher Matthiasel
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Balas Costasen
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Μπαλας Κωσταςel
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Kalaitzakis Konstantinosen
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Καλαϊτζακης Κωνσταντινοςel
ΕκδότηςΠολυτεχνείο Κρήτηςel
ΕκδότηςTechnical University of Creteen
Ακαδημαϊκή ΜονάδαTechnical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineeringen
Ακαδημαϊκή ΜονάδαΠολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
ΤύποςΜεταπτυχιακή Διατριβήel
ΤύποςMaster Thesisen
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Ημερομηνία2018-06-29-
Ημερομηνία Δημοσίευσης2018-
Θεματική ΚατηγορίαHigh TID effects on CMOS el
Βιβλιογραφική ΑναφοράAristeidis Nikolaou, "Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology", Master Thesis, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2018en
Βιβλιογραφική ΑναφοράΑριστείδης Νικολάου, "Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2018el

Διαθέσιμα αρχεία

Υπηρεσίες

Στατιστικά