Institutional Repository [SANDBOX]
Technical University of Crete
EN  |  EL

Search

Browse

My Space

Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology

Nikolaou Aristeidis

Simple record

URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/6478F07C-E230-450A-A4CB-CC70418BFB21-
Identifierhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.77171-
Languageen-
Extent124 pagesen
TitleCharacterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technologyen
TitleΧαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS el
CreatorNikolaou Aristeidisen
CreatorΝικολαου Αριστειδηςel
Contributor [Thesis Supervisor]Bucher Matthiasen
Contributor [Thesis Supervisor]Bucher Matthiasel
Contributor [Committee Member]Balas Costasen
Contributor [Committee Member]Μπαλας Κωσταςel
Contributor [Committee Member]Kalaitzakis Konstantinosen
Contributor [Committee Member]Καλαϊτζακης Κωνσταντινοςel
PublisherΠολυτεχνείο Κρήτηςel
PublisherTechnical University of Creteen
Academic UnitTechnical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineeringen
Academic UnitΠολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
Type of ItemΜεταπτυχιακή Διατριβήel
Type of ItemMaster Thesisen
Licensehttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Date of Item2018-06-29-
Date of Publication2018-
SubjectHigh TID effects on CMOS el
Bibliographic CitationAristeidis Nikolaou, "Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology", Master Thesis, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2018en
Bibliographic CitationΑριστείδης Νικολάου, "Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2018el

Available Files

Services

Statistics

 

Copyright © DIAS 2013