Αναζήτηση

Πλοήγηση

• Κοινότητες
• Συγγραφείς
• Έτος
• Τίτλοι
• Θέματα

Ο Χώρος μου

• Είσοδος

Variability of low frequency noise and mismatch in CORNER DOPED and standard CMOS technology

Coustans Mathieu, Jazaeri, Farzan 1984-, Enz, Christian C, Krummenacher Francois, Kayal, Maher, Meyer René, Acović, Alexandre, Habaš Predrag, Lolivier, Jérôme 1978-, Bucher Matthias

Πλήρης Εγγραφή

URI:	http://purl.tuc.gr/dl/dias/C37E6B65-EA3C-49F8-81A1-2AFCA6C497DE
Έτος	2017
Τύπος	Πλήρης Δημοσίευση σε Συνέδριο
Άδεια Χρήσης	Λεπτομέρειες Το έργο με τίτλο Variability of low frequency noise and mismatch in CORNER DOPED and standard CMOS technology από τον/τους δημιουργό/ούς Coustans Mathieu, Jazaeri, Farzan 1984-, Enz, Christian C, Krummenacher Francois, Kayal, Maher, Meyer René, Acović, Alexandre, Habaš Predrag, Lolivier, Jérôme 1978-, Bucher Matthias διατίθεται με την άδεια Creative Commons Αναφορά Δημιουργού 4.0 Διεθνές
Βιβλιογραφική Αναφορά	M. Coustans, F. Jazaeri, C. Enz, F. Krummenacher, M. Kayal, R. Meyer, A. Acovic, P. Habaš, J. Lolivier and M. Bucher, "Variability of low frequency noise and mismatch in CORNER DOPED and standard CMOS technology," in International Conference on Noise and Fluctuations, 2017. doi : 10.1109/ICNF.2017.7985953 https://doi.org/10.1109/ICNF.2017.7985953
Εμφανίζεται στις Συλλογές