Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs

Nikolaou Aristeidis

Απλή Εγγραφή

URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/C430AFDB-1CC3-4699-A38D-14E806CF17E7-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.66251-
Γλώσσαen-
Μέγεθος3 megabytesen
ΤίτλοςStatistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETsen
ΤίτλοςΣτατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs el
ΔημιουργόςNikolaou Aristeidisen
ΔημιουργόςΝικολαου Αριστειδηςel
Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής]Bucher Matthiasen
Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής]Bucher Matthiasel
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Balas Costasen
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Μπαλας Κωσταςel
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Kalaitzakis Kostasen
Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής]Καλαϊτζακης Κωσταςel
ΕκδότηςΠολυτεχνείο Κρήτηςel
ΕκδότηςTechnical University of Creteen
Ακαδημαϊκή ΜονάδαTechnical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineeringen
Ακαδημαϊκή ΜονάδαΠολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
ΤύποςΔιπλωματική Εργασίαel
ΤύποςDiploma Worken
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/en
Ημερομηνία2016-09-05-
Ημερομηνία Δημοσίευσης2016-
Θεματική ΚατηγορίαLow frequency noiseen
Βιβλιογραφική ΑναφοράAristeidis Nikolaou, "Statistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETs", Diploma Work, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2016en
Βιβλιογραφική ΑναφοράΑριστείδης Νικολάου, "Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2016el

Διαθέσιμα αρχεία

Υπηρεσίες

Στατιστικά

 

Copyright © DIAS 2013