Institutional Repository [SANDBOX]
Technical University of Crete
EN  |  EL

Search

Browse

My Space

Statistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETs

Nikolaou Aristeidis

Simple record

URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/C430AFDB-1CC3-4699-A38D-14E806CF17E7-
Identifierhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.66251-
Languageen-
Extent3 megabytesen
TitleStatistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETsen
TitleΣτατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs el
CreatorNikolaou Aristeidisen
CreatorΝικολαου Αριστειδηςel
Contributor [Thesis Supervisor]Bucher Matthiasen
Contributor [Thesis Supervisor]Bucher Matthiasel
Contributor [Committee Member]Balas Costasen
Contributor [Committee Member]Μπαλας Κωσταςel
Contributor [Committee Member]Kalaitzakis Kostasen
Contributor [Committee Member]Καλαϊτζακης Κωσταςel
PublisherΠολυτεχνείο Κρήτηςel
PublisherTechnical University of Creteen
Academic UnitTechnical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineeringen
Academic UnitΠολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
Type of ItemΔιπλωματική Εργασίαel
Type of ItemDiploma Worken
Licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/en
Date of Item2016-09-05-
Date of Publication2016-
SubjectLow frequency noiseen
Bibliographic CitationAristeidis Nikolaou, "Statistical analysis of low frequency noise in Enclosed Gate MOSFETs", Diploma Work, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2016en
Bibliographic CitationΑριστείδης Νικολάου, "Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2016el

Available Files

Services

Statistics

 

Copyright © DIAS 2013