Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs
Nikolaou Aristeidis
Πλήρης Εγγραφή
URI: |
http://purl.tuc.gr/dl/dias/C430AFDB-1CC3-4699-A38D-14E806CF17E7
|
Έτος
|
2016
|
Τύπος
|
Διπλωματική Εργασία
|
Άδεια Χρήσης
|
|
Βιβλιογραφική Αναφορά
|
Αριστείδης Νικολάου, "Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2016
https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.66251
|
Εμφανίζεται στις Συλλογές
|
|
Περίληψη
Μη διαθέσιμο για την επιλεγμένη γλώσσα
Εξαγωγή
Μεταδεδομένων & Περιεχομένου σε METS: |
|
|
Μεταδεδομένων σε
Μορφότυπο:
|
|