| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/8185F1DA-6278-4D53-B0BF-B6F1015697AD | - |
| Γλώσσα | en | - |
| Μέγεθος | 1 page | en |
| Τίτλος | Knowledge-based systems at work: experience from a knowledge-based integrated circuit testing system | en |
| Δημιουργός | Dollas Apostolos | en |
| Δημιουργός | Δολλας Αποστολος | el |
| Εκδότης | IEEE Computer Society Press | en |
| Περίληψη | A panel session concerning the use of knowledge-based techniques is reported. The discussion covers the following topics: knowledge-based machine vision architectures; experiences from a knowledge-based integrated-circuit testing system; artificial-intelligence (AI) tools for requirements capture and analysis; an approach to knowledge modeling in expert systems design; and a homogeneous approach to bringing AI and database management systems together. | en |
| Τύπος | Δημοσίευση σε Συνέδριο | el |
| Τύπος | Conference Publication | en |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2015-11-17 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 1990 | - |
| Θεματική Κατηγορία | Automatic computers | en |
| Θεματική Κατηγορία | Automatic data processors | en |
| Θεματική Κατηγορία | Computer hardware | en |
| Θεματική Κατηγορία | Computing machines (Computers) | en |
| Θεματική Κατηγορία | Electronic brains | en |
| Θεματική Κατηγορία | Electronic calculating-machines | en |
| Θεματική Κατηγορία | Electronic computers | en |
| Θεματική Κατηγορία | Hardware, Computer | en |
| Θεματική Κατηγορία | computers | en |
| Θεματική Κατηγορία | automatic computers | en |
| Θεματική Κατηγορία | automatic data processors | en |
| Θεματική Κατηγορία | computer hardware | en |
| Θεματική Κατηγορία | computing machines computers | en |
| Θεματική Κατηγορία | electronic brains | en |
| Θεματική Κατηγορία | electronic calculating machines | en |
| Θεματική Κατηγορία | electronic computers | en |
| Θεματική Κατηγορία | hardware computer | en |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | A. Dollas, "Knowledge-based systems at work: experience from a knowledge-based integrated circuit testing system," presented at the 14th Annual International Computer Software and Applications Conference, Chicago, United States, 1990. | en |