Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Efficiency calibration of a Ge(In) semiconductor detector by thin- and thick-arget PIXE†

Kallithrakas-Kontos Nikolaos, Katsanos Anastasios

Πλήρης Εγγραφή


URI: http://purl.tuc.gr/dl/dias/737BDAFB-9298-4074-9D47-ACB027B0C038
Έτος 1994
Τύπος Δημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτές
Άδεια Χρήσης
Λεπτομέρειες
Βιβλιογραφική Αναφορά N. Kallithrakas-Kontos and A.A. Katsanos, "Efficiency calibration of a Ge(In) semiconductor detector by thin- and thick-arget PIXE" X-Ray Spectrom., vol. 23, no. 2, pp. 96-99, Mar.-Aprl. 1994. doi: 10.1002/xrs.1300230211 https://doi.org/10.1002/xrs.1300230211
Εμφανίζεται στις Συλλογές

Περίληψη

The efficiency of a Ge(In) semiconductor x-ray detector was measured in the energy region 1‒25 keV using proton-induced x-rays from thick targets and from thin targets of standard thickness, and the results of the two calibration methods were compared. A proton energy of 2.00 MeV was used in an external beam facility. A model based on fundamental parameters (mass absorption coefficients, fluorescence yields and relative x-ray emission rates) was used to reproduce the experimental results.

Υπηρεσίες

Στατιστικά