![Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]](images/dias.logo.png "Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]"){kind=logo}
Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/034521C5-525F-408A-886D-C6176AF996A5 | - |
| Αναγνωριστικό | http://www.library.tuc.gr/artemis/PD2009-0008/PD2009-0008.pdf | - |
| Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13885 | - |
| Γλώσσα | en | - |
| Τίτλος | Multi-classifier approaches for post-placement surface-mount devices quality assessment | en |
| Δημιουργός | Γκούμας Στέφανος Κ. | el |
| Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής] | Ζερβάκης Μιχάλης | el |
| Εκδότης | Πολυτεχνείο Κρήτης | el |
| Ακαδημαϊκή Μονάδα | Πολυτεχνείο Κρήτης::Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών | el |
| Περίληψη | Introduction 2. Fundamental concepts of industrial machine vision inspection systems 3. The problem of surface mount devices printed circuit boards post placement quality inspection 4. Algorithms concepts 5. A Bayesian framework for multi-lead SMD post-placement quality inspection 6. Data-space reduction using topological and projection features for component quality inspection 7. Combination of multiple classifiers for post placement quality inspection of components: a comparative study 8. Combining multiple classifiers using reduced dimensionality distinct pattern representations for post placement quality inspection of components 9. Conclusions and future research | en |
| Τύπος | Διδακτορική Διατριβή | el |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2014-03-24 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 2008 | - |
| Θεματική Κατηγορία | Surface mount technology--Quality control | en |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | Στέφανος Κ. Γκούμας, "Multi-classifier approaches for post-placement surface-mount devices quality assessment", Διδακτορική Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2008. | el |
Copyright © DIAS 2013
