Institutional Repository [SANDBOX]
Technical University of Crete
EN  |  EL

Search

Browse

My Space

Characterization and RF design aspects in advanced CMOS technology

Μακρής Νικόλαος

Simple record

URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/CB4EBE07-62BD-46D6-9967-7AB768B7E259-
Identifierhttp://www.library.tuc.gr/artemis/MT2012-0026/MT2012-0026.pdf-
Identifierhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13624-
Languageel-
TitleCharacterization and RF design aspects in advanced CMOS technologyen
CreatorΜακρής Νικόλαοςel
Contributor [Thesis Supervisor]Bucher Matthiasen
PublisherΠολυτεχνείο Κρήτηςel
Academic UnitΠολυτεχνείο Κρήτης::Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
Content SummaryΚεφ. 1: Πειραματική διαδικασία -- Κεφ. 2: Ευλινησία -- Κεφ. 3: Τάση κατωφλίου -- Κεφ. 4: Κανονικοποιημένες διαγωγιμότητες -- Κεφ. 5: Slope factor -- Κεφ. 6: Συχνότητα μοναδιαίου κέρδουςel
Type of ItemΜεταπτυχιακή Διατριβήel
Licensehttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Date of Item2014-03-24-
Date of Publication2011-
SubjectMetal oxide semiconductor field-effect transistors--Designen
SubjectMetal oxide semiconductor field-effect transistors--Mathematical modelsen
SubjectMetal oxide semiconductors, Complementaryen
SubjectNanotechnologyen
Bibliographic CitationΝικόλαος Μακρής, "Characterization and RF design aspects in advanced CMOS technology", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2011.el

Available Files

Services

Statistics

 

Copyright © DIAS 2013