![Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]](images/dias.logo.png "Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]"){kind=logo}
Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83 | - |
| Αναγνωριστικό | http://www.library.tuc.gr/artemis/MT2000-0023/MT2000-0023.pdf | - |
| Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13295 | - |
| Γλώσσα | el | - |
| Τίτλος | Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες | el |
| Δημιουργός | Μαυρεδάκης Νικόλαος | el |
| Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής] | Bucher Matthias | en |
| Εκδότης | Πολυτεχνείο Κρήτης | el |
| Ακαδημαϊκή Μονάδα | Πολυτεχνείο Κρήτης::Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών | el |
| Περίληψη | Κεφ. 1: Εισαγωγή -- Κεφ. 2: Θόρυβος στα MOSFETs -- Κεφ. 3: Χαρακτηρισμός 1/F θορύβου - μοντελοποίηση με το EKV3 -- Κεφ. 4: Αποτελέσματα ανάλυσης 1/F θορύβου ως προς την πόλωση - εξαγωγή παραμέτρων | el |
| Τύπος | Μεταπτυχιακή Διατριβή | el |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2014-03-24 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 2010 | - |
| Θεματική Κατηγορία | Metal oxide semiconductor field-effect transistors--Noise | en |
| Θεματική Κατηγορία | Metal oxide semiconductors, Complementary--Noise | en |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | Νικόλαος Μαυρεδάκης, "Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2010. | el |
Copyright © DIAS 2013
