Institutional Repository [SANDBOX]
Technical University of Crete
EN  |  EL

Search

Browse

My Space

Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες

Μαυρεδάκης Νικόλαος

Simple record


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83-
Identifierhttp://www.library.tuc.gr/artemis/MT2000-0023/MT2000-0023.pdf-
Identifierhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13295-
Languageel-
TitleΧαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίεςel
CreatorΜαυρεδάκης Νικόλαοςel
Contributor [Thesis Supervisor]Bucher Matthiasen
PublisherΠολυτεχνείο Κρήτηςel
Academic UnitΠολυτεχνείο Κρήτης::Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
Content SummaryΚεφ. 1: Εισαγωγή -- Κεφ. 2: Θόρυβος στα MOSFETs -- Κεφ. 3: Χαρακτηρισμός 1/F θορύβου - μοντελοποίηση με το EKV3 -- Κεφ. 4: Αποτελέσματα ανάλυσης 1/F θορύβου ως προς την πόλωση - εξαγωγή παραμέτρωνel
Type of ItemΜεταπτυχιακή Διατριβήel
Licensehttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Date of Item2014-03-24-
Date of Publication2010-
SubjectMetal oxide semiconductor field-effect transistors--Noiseen
SubjectMetal oxide semiconductors, Complementary--Noiseen
Bibliographic CitationΝικόλαος Μαυρεδάκης, "Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2010.el

Available Files

Services

Statistics