Institutional Repository [SANDBOX]
Technical University of Crete
EN  |  EL

Search

Browse

My Space

Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες

Μαυρεδάκης Νικόλαος

Full record


URI: http://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83
Year 2010
Type of Item Μεταπτυχιακή Διατριβή
License
Details
Bibliographic Citation Νικόλαος Μαυρεδάκης, "Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2010. https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13295
Appears in Collections

Summary

Κεφ. 1: Εισαγωγή -- Κεφ. 2: Θόρυβος στα MOSFETs -- Κεφ. 3: Χαρακτηρισμός 1/F θορύβου - μοντελοποίηση με το EKV3 -- Κεφ. 4: Αποτελέσματα ανάλυσης 1/F θορύβου ως προς την πόλωση - εξαγωγή παραμέτρων

Available Files

Services

Statistics