Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες

Μαυρεδάκης Νικόλαος

Απλή Εγγραφή


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83-
Αναγνωριστικόhttp://www.library.tuc.gr/artemis/MT2000-0023/MT2000-0023.pdf-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13295-
Γλώσσαel-
ΤίτλοςΧαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίεςel
ΔημιουργόςΜαυρεδάκης Νικόλαοςel
Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής]Bucher Matthiasen
ΕκδότηςΠολυτεχνείο Κρήτηςel
Ακαδημαϊκή ΜονάδαΠολυτεχνείο Κρήτης::Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστώνel
ΠερίληψηΚεφ. 1: Εισαγωγή -- Κεφ. 2: Θόρυβος στα MOSFETs -- Κεφ. 3: Χαρακτηρισμός 1/F θορύβου - μοντελοποίηση με το EKV3 -- Κεφ. 4: Αποτελέσματα ανάλυσης 1/F θορύβου ως προς την πόλωση - εξαγωγή παραμέτρωνel
ΤύποςΜεταπτυχιακή Διατριβήel
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Ημερομηνία2014-03-24-
Ημερομηνία Δημοσίευσης2010-
Θεματική ΚατηγορίαMetal oxide semiconductor field-effect transistors--Noiseen
Θεματική ΚατηγορίαMetal oxide semiconductors, Complementary--Noiseen
Βιβλιογραφική ΑναφοράΝικόλαος Μαυρεδάκης, "Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2010.el

Διαθέσιμα αρχεία

Υπηρεσίες

Στατιστικά