Ιδρυματικό Αποθετήριο [SANDBOX]
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες

Μαυρεδάκης Νικόλαος

Πλήρης Εγγραφή


URI: http://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83
Έτος 2010
Τύπος Μεταπτυχιακή Διατριβή
Άδεια Χρήσης
Λεπτομέρειες
Βιβλιογραφική Αναφορά Νικόλαος Μαυρεδάκης, "Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2010. https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13295
Εμφανίζεται στις Συλλογές

Περίληψη

Κεφ. 1: Εισαγωγή -- Κεφ. 2: Θόρυβος στα MOSFETs -- Κεφ. 3: Χαρακτηρισμός 1/F θορύβου - μοντελοποίηση με το EKV3 -- Κεφ. 4: Αποτελέσματα ανάλυσης 1/F θορύβου ως προς την πόλωση - εξαγωγή παραμέτρων

Διαθέσιμα αρχεία

Υπηρεσίες

Στατιστικά